Maud Een handig hulpmiddel voor het analyseren van materialen en texturen
Download nu

Maud Rangschikking & Samenvatting

Maud Tags

analys diffractie reflectiviteit Diffractieanalyse

Maud Beschrijving

Maud staat voor materiële analyse met behulp van diffractie. Het is een algemeen diffractie- / reflectiviteitsanalyseprogramma dat voornamelijk is gebaseerd op de Rietveld-methode, maar niet beperkt tot. Dankzij het feit dat het volledig is geschreven in de Java-programmeertaal, zou je Maud moeiteloos kunnen runnen op verschillende systemen. Belangrijkste kenmerken: Eenvoudig te gebruiken, elke actie wordt bestuurd door een GUI werkt met röntgenstraling, synchrotron, neutron, tof ontwikkeld voor Rietveld-analyse, gelijktijdige multi-spectra en verschillende instrumenten / technieken ondersteund AB-Initio Structure Solution-integratie, van Peak Finding, Indexeren om op te lossen Verschillende optimalisatie-algoritmen beschikbaar (LS, evolutionaire, gesimuleerde uitgloeiing, metadynamiek) Le Bail Fitting kwantitatieve fase-analyse Microstructuuranalyse (size-stam, anisotropy en distributies inbegrepen) textuur en resterende stress-analyse met behulp van deel of volledige spectra Meem en Superflip Algoritme voor kaarten voor elektronendichtheid en montage dunne film en multilayer bewust; Filmdikte en absorptiemodellen reflectiviteitsfitting door verschillende modellen, van Parratt (matrix) tot discrete geboren benadering werkt met TEM Diffractie Afbeeldingen en elektronstrip Verschillende gegevensbestanden invoerformaten werkt en invoer afbeeldingen van 2D-detectoren (beeldplaten, CCD) CIF-naleving van invoer / uitvoer; importconstructies uit databases

Maud Gerelateerde software